National Research University MIET

K. S. Maksimov, S. K. Maksimov

Application of nanotechnology products requires identification of their structure and habit. In this work we report the distinctive features of diffraction patterns that can cause difficulties in the identification of the atomic structure of particles with defect structures containing twins and antiphase boundaries. We describe SEM techniques of particle morphology determination based on the use of illuminating electron beams with different convergent angles and demonstrate obstacles inherent to these techniques.

1. Nanotoxicology. Characterization, dosing and health effects / Eds. by N. Montairo−Riviere. − N. Y. : Informa Healthcare USA, 2007. − 450 p.
2. Nanotechnology: Consequences for human health and environment / Eds. by R. E. Hester, R. M. Harrison. − Cambride (UK) : RSC Publishing, 2007. − 149 p.
3. Barnard, A. S. Modelling of nanoparticles: approaches to morphology and evolution / A. S. Barnard // Rep. on progress in phys. − 2010. − V. 73, N 8. − P. 86502—86553.
4. Maksimov, S. K. Kontrol' poverkhnostnoy funktsional'nosti nanomaterialov / S. K. Maksimov, K. S. Maksimov // Rossiyskie nanotekhnologii. − 2009. − T. 4, № 3−4. − S. 59—70.
5. Maksimov, S. K. Printsipy standarta bezopasnosti i proizvodstvennogo kontrolya v proizvodstve nanorazmernykh chastits / S. K. Maksimov, K. S. Maksimov // Nanotekhnika. − 2009. − № 18. − S. 5—12.
6. Maksimov, S. K. Printsipy kontrolya nanomaterialov dlya razrabotki standartov bezopasnosti na primere vyyavleniya zakonomernostey nanostrukturirovaniya v sistemakh Ca_yLa_1−yF_3−y i La_xCa_1−xF_2+x / S. K. Maksimov, K. S. Maksimov // Pis'ma v ZhTF. − 2009. − T. 35, № 5. − S. 58—65.
7. Maksimov, S. K. Novyy podkhod v metrologii v nanooblasti / S. K. Maksimov, K. S Maksimov // Pis'ma v ZhTF. − 2010. − T. 36, № 20. − S. 21—28.
8. Nanocharacterization / Eds. by J. Hutchison, A. Kirkland. − Cambride (UK) : RSC Publishing, 2007. − 304 p.
9. Rossi, G. Searching for low−energy structures of nanoparticles: a comparison of different methods and algorithms / G. Rossi, R. Ferrando // J. Phys.: Condens. Matter. − 2009. − V. 21, N 8. − P. 84208—84218.
10. Khirt, Dzh. Teoriya dislokatsiy / Dzh. Khirt, M. Lote. − M. : Atomizdat, 1972. − 589 s.
11. Reder, R. Scattering and defect structure simulations / R. Reder − Oxford (UK) : OUP, 2008. − 239 P.
12. Wang ,Y. Q. Coalescence behavior of gold nanoparticles / Y. Q. Wang, W. S. Liang, C. Y. Geng // Nanoscale Res. Lett. − 2009. − N 4. − P. 684—688.
13. Wittig, J. In−situ Z−STEM imaging of chemical ordering in FePt magnetic nanoparticles / J. Wittig, J. Bentley, L. F. Allard, M. S. Wellons, C. M. Lukehart // Microsc. and Microanal. − 2008. − V. 14, Suppl. 2. − P. 216—217.
14. Yuge, K. Segregation of Pt₂₈Rh₂₇ bimetallic nanoparticles: a first−principles study / K. Yuge // J. Phys.: Condens. Matter. − 2010. − V. 22, N 24. − P. 245401—245406.
15. Maksimov, S. K. Mekhanizm strukturirovaniya Ca_1−xLa_xF_2+x so strukturoy na osnove CaF₂ / S. K. Maksimov, K. S. Maksimov // Neorgan. materialy. − 2007. − T. 43, № 5. − S. 626—631.
16. Khirsh, P. Elektronnaya mikroskopiya tonkikh kristallov / P. Khirsh, A. Khovi, R. Nikolson, D. Peshli, M. Uelan. − M. : Mir, 1968. − 574 s.
17. Maksimov, K. S. Dvumernye defekty i problema identifikatsii struktury nanorazmernykh chastits / K. S. Maksimov // Izv. vuzov. Elektronika. − 2011. − № 2. − S. 51—59.
18. Maksimov, S. K. Psevdodvoynikovanie v La₂CaF₈ i problema strukturnoy organizatsii nestekhiometricheskikh faz / S. K. Maksimov // Doklady RAN. − 2007. − T. 416, № 1. − S. 43—46.
19. Maksimov, S. K. Uporyadochenie i dvoynikovanie v nestekhiometricheskoy faze La_yCa_1−yF_3−y / S. K. Maksimov, K. S. Maksimov // Neorgan. materialy. − 2008. T. 44, № 8. − C. 1007—1013.
20. Maximov, B. A. Space group, crystal structure, and twinning of LaF₃ / B. A. Maximov, H. Schulz // Acta cryst. − 1985. − V. B41. − P. 88—91.
21. Bokiy, G. B. Rentgenostrukturnyy analiz / G. B. Bokiy, M. A. Poray−Koshits. − M. : Izd−vo MGU. 1964. − 489 c.
22. Maksimov, S. K. Problema kharakterizatsii struktury nanoob"ektov: nesovmestnye refleksy i difraktsionnoe osrednenie / S. K. Maksimov, K. S. Maksimov // Izv. RAN. Ser. fiz. − 2011. − T. 75, № 9. − S. 1238—1242.
23. Sobolev, B. P. The rare earth trifluorides. 1. The high temperature chemistry of the rare earth trifluorides / B. P. Sobolev. − Barcelona : Institut d’Estudis Catalans, 2000. − 520 p.
24. Liu, W. TEM investigation of non−crystallographic displacements near antiphase domain boundaries in D03 ordered Fe₃Al / W. Liu, A. Gemperle, J. Gemperlova, V. Paidar, E. Nembach // Acta Mater. − 1998. − V. 46, N 17. − P. 6173—6182.
25. Cheng, C.−J. Structural transitions and complex domain structures across a ferroelectric−to−antiferroelectric phase boun dary in epitaxial Sm−doped BiFeO₃ thin films / C.−J. Cheng, D. D. Kan, S.−H. Lim, W. R. McKenzie, P. R. Munroe, L. G. Salamanca−Riba, R. L. Withers, I. Takeuchi, V. Nagarajan // Phys. Rev. B. − 2009. − V. 80, Iss. 1. − P. 014109—014119.
26. Maksimov, S. K. Uporyadochenie i dvoynikovanie v nestekhiometricheskoy faze La_yCa_1−yF_3−y / S. K. Maksimov, K. S. Maksimov //Neorgan. materialy. − 2008. − T. 44, № 8. − S. 1007—1013.
27. Bhushan, B. Scanning probe microscopy — principle of operation and instrumentation. Handbook of nanotechnology / B. Bhushan, O. Marti − Berlin : Springer, 2007. − P. 239—278.
28. Goldstain, J. Scanning electron microscopy and X−ray microanalysis / J. Goldstein, D. E. Newbury, D. C. Joy, C. E. Lyman, P. Echlin, E. Lifshin, L. Sawyer, S. R. Michael. − N. Y. (USA) : Kluwer Acad. / Plenum Publ., 2005. − 690 p.
29. Maksimov, S. K. Kontrol' morfologii nanoob"ektov i novyy put' ego osushchestvleniya / S. K. Maksimov, K. S. Maksimov // Izv. RAN. Ser. fiz. − 2011. − T. 75, № 9. − S. 1242.
30. Kucherenko, A. V. Poluchenie trekhmernogo izobrazheniya s ispol'zovaniem rastrovogo elektronnogo mikroskopa / A. V. Kucherenko, S. K Maksimov., K. S. Maksimov, K. N. Sukhov; Zayavka na izobretenie po mezhdunarodnoy sisteme PCT. № WO 2011/021957 A1.
31. US Pat. 7199365. Electron beam apparatus with aberration corrector / T. Kawasaki, T. Yoshida, Y. Ose, H. Todokoro; 08.09.2005.
32. US Pat. 7442929. Scanning electron microscope / H. Kitsuki, K. Aoki, M. Sato; 28.10. 2008.