Проведены исследования нанокомпозитных материалов (пленок и порошков) состава SiO₂CuO_x, синтезированных золь-гель методом. Методом рентгеновской спектроскопии поглощения и фотоэлектронной спектроскопии изучен фазовый состав и оксидное состояние меди. Представлены результаты сопоставления экспериментальных рентгеновских спектров поглощения БТСРП за L_2,3-краем Cu нанокомпозитных порошков и рентгеновские фотоэлектронные спекты пленок. Показано, что в материале, полученном в виде порошков, прошедших термическую обработку при температуре 300 и 500 °С формируется соединение меди соответствующее фазе CuO, в то время как дальнейшее увеличение температуры приводит к формирования двух фаз: фазы CuO и металлической фазы меди. В материале, полученном в виде пленок, присутствуют фазы оксидов меди CuO и Cu₂O, а также фаза двойного оксида CuSiO₃.

1. Cirilli, F. Influence of Cu overlayer on the properties of SnO-based gas sensors / F. Cirilli, S. Kaciulis, G. Mattogno, A. Galdikas, A. Mironas, D. Senuliene, A. Setkus // Thin Solid Films. - 1998. - V. 315. - P. 310—315.
2. Kissin, V. V. A comparative study of SnO₂ and SnO₂:Cu thin films for gas sensor applications / V. V. Kissin, S. A. Voroshilov, V. V. Sysoev // Thin Solid Films. - 1999. - V. 348. - P. 304—311.
3. Kravtsova, A. N. The atomic structure of Fe_100-xCu_x nanoalloys: X-ray absorption analysis / A. N. Kravtsova, G. E. Yalovega, A. V. Soldatov , W. S. Yan, S. Q. Wei // J. Alloys and Comp. - 2009. - V. 469. - P. 42—49.
4. Аврамов, П. Н. Связь особенностей электронной структуры высокотемпературных сверхпроводников с формой их рентгеновских и электронных спектров. / П. Н. Аврамов, С. Г. Овчинников // Журн. структурной химии. - 1999. - Т. 40, № 1. - С. 131.
5. Гуревич, С. А. Исследование химического состояния меди в композитных пленках Cu/SiO₂ методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / С. А. Гуревич, Т. А. Зарайская, С. Г. Конников, В. М. Микушин, С. Ю. Никонов , А. А. Ситникова, С. Е. Сысоев, В. В Хоренко, В. В. Шнитов, Ю. С. Гордеев // ФТТ. - 1997. - Т. 39, № 10.
6. Стервоедов, А. Н. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия ультратонких пленок титана и нитрида титана, полученных методом ионно-лучевого распыления / А. Н. Стервоедов, В. И. Фареник // Вестн. харьковского ун-та. - 2005. - № 657.
7. Домашевская, Э. П. XPS и XANES исследования нанослоев SnO_x / Э. П. Домашевская, С. В. Рябцев, С. Ю. Турищев, В. М. Кашкаров, Ю. А. Юраков, О. А. Чувенкова, А. В. Щукарев // Конденсированные среды и межфазные границы. - 2008. - Т. 10, № 2.
8. Sugiyama, Osamu. XPS analysis of lead zirconate titanate thin films prepared via a sol-sel process / Osamu Sugiyama,Yasuhiro Kondo, Hisao Suzuki, Shoji Kaneko // J. Sol-Gel Sci. and Technol. - 2003. - V. 26. - P. 749—752.
9. Sainio, J. An XPS study of CrO_x on a thin alumina film and in alumina supported catalysts / J. Sainio, M. Aronniemi, O. Pakarinen, K. Kauraala, S. Airaksinen, O. Krause, J. Lahtinen // Appl. Surface Sci. - 2005. - V. 252, N 4. - P. 1076—1083.
10. Changa, Sung-Sik. Photoluminescence properties of spark-processed CuO / Sung-Sik Changa, Hyung-Jik Leea, Hye Jeong Park // Ceramics Internat. - 2005. - V. 31.
11. Гижевский, Б. А. Фазовые превращения в СuO при облучении ионами He⁺ и под действием феерических ударных волн / Б. А. Гижевский, В. Р. Галахов, Д. А. Зацепин, Л. В. Елохина, Т. А. Белых, Е. А. Козлов, С. В. Наумов, В. Л. Арбузов, К. В. Шальнов, М. Нойман // ФТТ. - 2002. - Т. 44, вып. 7. - С. 1318—1325.
12. Лукирский, А. П. Исследование энергетической структуры Be и BeO методом ультрадлинноволновой рентгеновской спектроскопии / А. П. Лукирский, И. А. Брытов // ФТТ. - 1964. - № 6. - С. 43.
13. Gudat, W. Close similarity between photoelectric yield and photoabsorption spectra in the soft-X-ray range / W. Gudat, C. Kunz // Phys. Rev. Lett. - 1972. - V. 29, N 3. - P. 169—172.
14. Adam, M. S. Rumänien Spectroscopic investigation of deposited InP nanocrystals and small Cu clusters: Diss. … Zur Erlangung des Doktorgrades des Fachbereichs Physik der Universität / M. S. Adam - Hamburg, 2004.
15. Sham, T. K. Electronic structure of Cu—Au alloys from the Cu perspective: A Cu L_3,2-edge study / T. K. Sham, A. Hiraya, M. Watanabe // Phys. Rev. - 1997. - V. 55.
16. Smolentsev, G. Local structure of reaction intermediates probed by time-resolved XANES spectroscopy / G. Smolentsev, G. Guilera, M. Tromp, S. Pascarelli, A. Soldatov // J. Chem. Phys. - 2009. - V. 130. - P. 174508.
17. Wagner, C. D. NIST X-ray photoelectron spectroscopy database / C. D. Wagner, A. V. Naumkin, A. Kraut-Vass, J. W. Allison, C. J. Powell, J. R. Rumble(Jr.) // NIST Standard Reference Database 20. Version 3.5 (http://srdata.nist.gov/xps/Default.aspx)
18. Wagner, C. D. Handbook of X-ray photoelectron spectroscopy / C. D. Wagner, W. M. Riggs, L. E. Davis, J. F. Moulder - Eden Prairie (Minnesota, US): Perkin-Elmer Corp., 1979.
19. McIntyre N. S. X-ray photoelectron studies on some oxides and hydroxides of cobalt, nickel, and copper / N. S. McIntyre, M. G. Cook // Anal. Chem. - 1975. - V. 47, N 13. - P. 2208—2213.
20. McIntyre, N. S. Chemical information from XPS—applications to the analysis of electrode surfaces / N. S. McIntyre, S. Sunder, D. W. Shoesmith, F. W. Stanchell // J. Vac. Sci. Technol. - 1981. - V. 18, N 3. - P. 714—721.
21. Рaбинович, В. А. Краткий химический справочник / В. А. Робинович, З. Я. Хавин - М. : Химия, 1978. - 392 с.
22. Baronetti, G. T. State of metallic phase in PtSn/Al₂O₃ catalysts prepared by different deposition techniques / G. T. Baronetti, S. R. de Miguel, O. A. Scelza, A. A. Castro // Appl. Catalysis. - 1986. - V. 24. - P. 109—116.
23. Golestani-Fard, F. Formation of cadmium stannates studied by electron spectroscopy / F. Golestani-Fard, T. Hashemi, K. J. D. Mackenzie, C. A. Hogarth // J. Mater. Sci. - 1983. - V. 18. - P. 3679—3685.
24. Нефедов, В. И. Рентгеноэлектронная спектроскопия химических соединений / В. И. Нефедов - М. : Химия, 1984. - 256 с.
25. Анализ поверхности методами Оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. В. Бриггса, М. Л. Сиха - М. : Мир, 1987. - 800 с.
26. Netterfield, R. P. Ion-assisted deposition of mixed TiO₂—SiO₂ films / R. P. Netterfield, P. J. Martin, C. G. Pacey, W. G. Sainty, D. R. McKenzie, G. Auchterlonie // J. Appl. Phys. - 1989. - V. 66, N 4. - P. 1805—1810.