Journals →  Материалы электронной техники →  2013 →  #1 →  Back

МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ И ТЕХНОЛОГИЯ. ДИЭЛЕКТРИКИ
ArticleName Обеспечение измерений оптических свойств монокристаллов и заготовок на их основе стандартными образцами предприятия
ArticleAuthor М. Б. Быкова, Ж. А. Гореева, И. С. Диденко, Н. С. Козлова, В. В. Сидорин
ArticleAuthorData

Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС»

М. Б. Быкова, Ж. А. Гореева, И. С. Диденко, Н. С. Козлова

МГТУ МИРЭА

В. В. Сидорин

Abstract

Эффективность метрологического контроля, а в итоге достоверность получаемых результатов напрямую связаны с уровнем обеспечения лаборатории стандартными образцами (СО). В области измерений параметров оптических монокристаллов и заготовок на их основе существует дефицит государственных стандартных образцов, а также промышленно производимых стандартных образцов. Поэтому для данной области исследований целесообразно и эффективно разрабатывать и применять стандартные образцы предприятия (СОП). Рассмотрен опыт разработки и применения стандартных образцов предприятия, предназначенных для контроля стабильности и обеспечения прослеживаемости измерений параметров оптических монокристаллов и заготовок на их основе, в аккредитованной межкафедральной учебно−испытательной лаборатории полупроводниковых материалов и диэлектриков «Монокристаллы и заготовки на их основе» Национального исследовательского технологического университета «МИСиС».

keywords Стандартный образец, прослеживаемость, обеспечение единства измерений, испытательная лаборатория, методика измерений, оптические свойства, монокристаллы
References

1. Федеральный закон от 26.06.2088 № 102−ФЗ. Об обеспечении единства измерений // Российская Газета. − Фед. вып. № 4697. - 2008. - 2 июл.
2. ГОСТ 8.315−97 ГСИ. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов. Основные положения. − Минск : ИПК Издательство стандартов, 1998. − 26 с.
3. ГОСТ Р ИСО 5725−6−2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Ч. 6. Использование значений точности на практике. − М. : Госстандарт России. 2002. − 42 с.
4. Р 50.2.058−2007 ГСИ. Оценивание неопределенностей аттестованных значений стандартных образцов. − М. : Стандартинформ, 2008. − 27 с.
5. Козлова, Н. С. Возможности спектроскопии диффузного отражения света для исследования материалов / Н. С. Козлова, Н. А. Симинел // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. − 2012. − Т. 78, № 8. − С. 37—40.
6. Меланхолин, Н. М. Методы исследования оптических свойств кристаллов / Н. М. Меланхолин. − М. : Наука, 1969. − 155 с.
7. Константинова, А. Ф. Оптические свойства кристаллов / А. Ф. Константинова, Б. Н. Гречушников, Б. В. Бокуть.− Мн. : Наука и техника, 1995. − 302 с.

Language of full-text russian
Full content Buy
Back